高低溫試驗屬于氣候類環(huán)境試驗項目中非?；A(chǔ)和重要的檢測項目類型之一，高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的簡稱，通常所做的高低溫環(huán)境試驗，主要通過實驗室的溫度箱進行模擬，通過高低溫試驗箱模擬產(chǎn)品(包括材料、元器件等)暴露在某種高溫或低溫的環(huán)境中，根據(jù)高低溫試驗結(jié)果來評價元器件、設(shè)備、系統(tǒng)在實際生活中遇到的運輸、貯存、使用環(huán)境條件的功能是否正常。通過環(huán)境試驗可以提供產(chǎn)品質(zhì)量方法的重要信息，是質(zhì)量保證的一個重要方法。

一、高低溫試驗項目類型

低溫工作試驗；低溫貯存試驗；低溫啟動試驗；高溫啟動試驗；高溫貯存試驗，高溫工作試驗，高溫老化試驗等。

高/低溫工作試驗：高/低溫試驗期間，受試樣機一直處于正常通電工作狀態(tài)下進行測試；

高/低溫貯存試驗：高/低溫試驗期間，受試樣機處于斷電狀態(tài)，高/低溫試驗后上電檢測產(chǎn)品的各項功能和性能指標(biāo)；

高/低溫啟動試驗：受試樣機處于斷電狀態(tài)，高/低溫溫度點保持一段時間比如保持2小時后，對受試樣機進行上電工作測試各項功能和性能指標(biāo)；

高溫老化試驗：也稱為高溫壽命試驗或烤機試驗等，在長時間的高溫條件下驗證產(chǎn)品的老化情況，高溫試驗期間通常是受試樣機進行上電工作。

二、影響機理與失效模式

   高溫能使各種材料的結(jié)構(gòu)、物理性能、電性能發(fā)生很大的變化，甚至導(dǎo)致永久性的損傷和不可逆的變化。高溫還會使電工電子產(chǎn)品的壽命明顯縮短，根據(jù)經(jīng)典的阿倫尼斯方程，溫度每上升10℃，產(chǎn)品的失效率增加一倍，也就是產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)要下降一半。例如，當(dāng)高溫工作溫度從+35℃提高到+50℃時，可靠性指標(biāo)可能會下降95%左右。

高溫環(huán)境會對裝備產(chǎn)生有害影響，主要的失效模式包括如下幾種。

1.不同材料膨脹系數(shù)不一致而導(dǎo)致材料之間的黏結(jié)和遷移，使得零部件相互咬死；材料尺寸全方位改變、局部改變或有方向性的改變；外材料由于黏結(jié)引起機械失靈或完全失效；有機材料老化、變色、起泡或產(chǎn)生裂紋；復(fù)合材料放氣；有機材料褪色、裂解或龜裂紋等。

2.潤滑劑黏度變低和潤滑劑外流造成連接處潤滑能力降低，加大活動部件之間的磨損，導(dǎo)致轉(zhuǎn)動不靈活。

3.包裝材料、襯墊、密封墊、軸承和軸發(fā)生變形、咬合和失效，引起機械故障或者完整性損壞。

4.外罩和密封條損壞；襯墊出現(xiàn)永久性變形。

5.固定電阻器阻值發(fā)生變化；變壓器和機電部件過熱；繼電器及磁動或熱動裝置的吸合/釋放范圍變化；溫度梯度不同和不同材料的膨脹不一致使電子線路的穩(wěn)定性發(fā)生變化。

6.工作壽命縮短。

7.橡膠隔振器的剪切模量G下降及性能變壞。絕緣材料的絕緣性能降低（如橡膠在高溫下，由于蒸發(fā)和浸析作用引起的脫?；蛟鏊苄裕?。

三、高低溫試驗方法

1.確定高低溫試驗檢測項目類型和測試溫度點以及測試時間，還有就是測試合格判據(jù)。

2.對受試樣機進行初始檢查，主要是看產(chǎn)品的功能和性能是否完好，外觀是否發(fā)生損傷。

3.將受試樣機放在溫度箱規(guī)定的試驗區(qū)域范圍內(nèi)，將受試樣機的工作狀態(tài)進行搭接，提前確認好供電方式、出線方式以及如何進行功能性能的監(jiān)測。連接好產(chǎn)品工作所需的所有輔助設(shè)備和儀器，確保各類電源信號線纜從溫度箱的專用出線圓口出線，搭接成正常工作狀態(tài)。

4.測試工程師通過溫度箱的顯示屏進行高低溫試驗的條件設(shè)置，包含溫度點、試驗時間、升降溫速率等。

5.實施試驗，試驗過程中對受試樣機的工作狀態(tài)進行記錄和拍照。

6.試驗結(jié)束，按照標(biāo)準或委托方相關(guān)要求，對檢測結(jié)果進行評判。

四、高低溫試驗檢測標(biāo)準

1.電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 GB/T 2423.1-2008；2.電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫 GB/T 2423.2-2008；3.環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 N: 溫度變化 GB/T2423.22-2012；4.包裝 運輸包裝件基本試驗 第 2 部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2－2005；5.包裝 運輸包裝件基本試驗 第 2 部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2－2005；6.汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件 QC/T 413-2002；7.道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗 第 4 部分：氣候負荷 GB/T 28046.4-2011；8.電子測量儀器通用規(guī)范 GB/T 6587-2012；9.計算機通用規(guī)范 第 1 部分：臺式微型計算機 GB/T9813.1-2016；10.計算機通用規(guī)范 第 2 部分：便攜式微型計算機GB/T 9813.2-2016；11.計算機通用規(guī)范 第 3 部分：服務(wù)器 GB/T 9813.3-2017；12.計算機通用規(guī)范 第 4 部分：工業(yè)應(yīng)用微型計算機 GB/T9813.4-2017；

13.裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 4 部分：低溫試驗 GJB150.4A-2009；14.通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001；15.計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998；16.電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009；17.艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJB 4.3-1983；18.艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJB 4.4-1983；19.技術(shù)偵察裝備通用技術(shù)要求 第 7 部分：環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗方法 GJB 1621.7A-2006；20.地面電子對抗設(shè)備通用規(guī)范 GJB 2225A-2008；21.裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：高溫試驗 GJB150.3A-2009；22.微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005；23.電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009；24.艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗 GJB 4.2-1983；25.電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 GJB 1032-1990； 26.裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 5 部分：溫度沖擊試驗 GJB 150.5A-2009；27.軌道交通 機車車輛電子裝置 GB/T 25119-2021；28.鐵路地面信號產(chǎn)品高溫及低溫試驗方法 TB/T 2953-2015；29.軌道交通 機車車輛電子裝置 IEC 60571:2012；30.軌道交通 機車車輛電子裝置 EN 50155:2021；31.光伏發(fā)電站匯流箱檢測技術(shù)規(guī)程 GB/T 34933-2017；32.光伏并網(wǎng)逆變器技術(shù)規(guī)范 NB/T 32004-2018；33.風(fēng)力發(fā)電機組振動狀態(tài)監(jiān)測導(dǎo)則 NB/T 31004-2011；34.繼電保護和安全自動裝置基本試驗方法 GB/T 7261-2016；35.繼電保護和安全自動裝置通用技術(shù)條件 DL/T 478-2013；36.量度繼電器和保護裝置 第 27 部分：產(chǎn)品安全要求 GB/T14598.27-2017；37.醫(yī)用電器環(huán)境要求及試驗方法 GB/T 14710-2009；38.遠動終端設(shè)備 GB/T 13729-2019。

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