受試樣品不同溫度循環(huán)試驗(yàn)一般對(duì)電路板、部件、整機(jī)、設(shè)備或系統(tǒng)進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。溫度沖擊試驗(yàn)一般針對(duì)電子元器件、電路板、零部件等進(jìn)行測(cè)試,特別適合用于篩選元器件,尤其是集成電路器件。
測(cè)試目的不同溫度循環(huán)試驗(yàn)主要考核電子設(shè)備在溫度循環(huán)變化的環(huán)境適應(yīng)性能力,是否可以正常工作;溫度沖擊試驗(yàn)主要考核受試電子器件在高范圍的環(huán)境應(yīng)力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗(yàn)。
測(cè)試要求不同溫度循環(huán)試驗(yàn):高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率(如5℃/min)、高低溫溫度點(diǎn)保持時(shí)間、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為寬松,循環(huán)次數(shù)多為10次循環(huán)。溫度沖擊試驗(yàn):高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間(如溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間≤3min)、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為嚴(yán)苛,循環(huán)次數(shù)多為幾次至幾十次循環(huán)不等。
受試樣機(jī)的工作狀態(tài)不同溫度循環(huán)試驗(yàn):溫度循環(huán)試驗(yàn)期間要求在不同的循環(huán)時(shí)間點(diǎn)需要對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè)功能和性能的完好性。溫度沖擊試驗(yàn):溫度沖擊試驗(yàn)期間一般不要求對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè),試驗(yàn)后通電檢測(cè)或通過(guò)專業(yè)輔助儀器測(cè)試樣機(jī)的其他性能指標(biāo)。
受試樣品的數(shù)量不同溫度沖擊試驗(yàn):一般針對(duì)集成電路器件、電路板等進(jìn)行,測(cè)試的數(shù)量一般較多。溫度循環(huán)試驗(yàn):一般的環(huán)境應(yīng)力篩選只在要求篩選的幾臺(tái)或1臺(tái)受試整機(jī)或系統(tǒng)上進(jìn)行測(cè)試。六、測(cè)試設(shè)備不同溫度循環(huán)試驗(yàn):對(duì)于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低(如1℃/min)的溫度循環(huán)試驗(yàn),其實(shí)就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗(yàn),使用普通的高低溫試驗(yàn)箱即可進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于要求高溫度變化速率(如5℃/min,10℃/min,15℃/min)的溫度循環(huán)試驗(yàn),需要使用專用的快速溫變箱進(jìn)行測(cè)試,普通溫度箱是不能滿足要求的,對(duì)于要求更高溫度變化速率的,就需要使用高加速壽命HALT試驗(yàn)箱。溫度沖擊試驗(yàn):一箱法的溫度沖擊試驗(yàn)箱,試驗(yàn)箱只有一個(gè)區(qū)域,低溫溫度點(diǎn)時(shí),高溫風(fēng)門(mén)關(guān)閉,只送冷風(fēng),高溫溫度點(diǎn)時(shí),低溫風(fēng)門(mén)關(guān)閉,高溫風(fēng)門(mén)打開(kāi)送熱風(fēng)。
兩箱法溫度沖擊箱,一個(gè)低溫區(qū),一個(gè)高溫區(qū),通過(guò)提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉(zhuǎn)換。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)不同1、溫度循環(huán)試驗(yàn):GJB 1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 》;GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》。2、溫度沖擊試驗(yàn):GJB 150.5A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)》;GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》。溫度循環(huán)試驗(yàn)和溫度沖擊試驗(yàn)雖然有太多的不同點(diǎn),但它們都屬于氣候類環(huán)境試驗(yàn)中都非常重要的檢測(cè)項(xiàng)目類型,在產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程的不同階段,都對(duì)提高產(chǎn)品的可靠性具備非常重要的作用。
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